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阶差规GT5355/GT3152镜面陶瓷款定制带证书
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阶差规GT5355/GT3152镜面陶瓷款定制带证书
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AUBAT-GT3152/GT5355
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阶差规
参数:按计量需求定制
型号:AUBAT-GT3152 / AUBAT-GT5355
证书:自选
厂家:奥本精密
计量特性与应用场景:
一、光学仪器 Z 轴(垂直方向)校准
通过已知的微小高度差(0.1µm–0.1mm)校准光学测量系统的垂直位移精度。应用于轮廓仪、粗糙度仪、光学显微镜、三坐标测量机的 Z 轴线性度验证。
二、表面形貌与粗糙度测量
作为标准台阶,检验仪器对不同高度差的分辨能力和误差来源。
应用于表面粗糙度仪、激光共聚焦显微镜、白光干涉仪的台阶高度测量校准
三、三维扫描与机器视觉
用于评估 3D 扫描仪、结构光、激光扫描系统的深度分辨率和线性误差。应用于3D 蓝结构光、激光扫描、机器视觉系统的深度校准与性能验证。
四、位移传感器与线性编码器
通过阶差规提供的**高度差,校准位移传感器的灵敏度和线性度。 线性编码器、光栅尺、激光位移传感器的校准。
五、计量实验室标准器具
作为国家计量基准之一,用于校准其他长度标准(如量块)并进行不确定度评估。
应用于国家计量院、第三方检测机构的端度(长度)标准器校准。
六、高精度量块干涉仪测量
阶差规的每个台阶可通过干涉仪测得极小的不确定度,提升整体测量链的精度。 应用于高精度量块干涉仪的校准与验证。
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