JJG1078-2012低对比度分辨力衰减模体测试卡

商品名称:JJG1078-2012低对比度分辨力衰减模体测试卡
库存号:AUBAT-1078Y
本站价格:在线询盘 T:13815109123
库存情况:根据库存情况变动
配送信息:[国内配送]

周一到周六
时间 7：30-17:30

国内订购专线 13815109123
国内售后专线 0510-81819831

产品参数

JJG1078-2012医用数字摄影(CR、DR)系统X射线辐射源检定规程

货号AUBAT-1078Y

纯铝片
纯度为 99%以上，其厚度误差不超过±0.05 mm；

检定用模体
低对比度分辨力模体由铝 (纯度≧99%) 制成，厚度 20 mm±0.05 mm，模体上圆孔直径为 1.0 cm，孔深的偏差不超过±0.02 mm。注: 低对比度分辨力模体也可以采等效厚度的 Cu (纯度≧99%) 制成的模体，对比度范围为0.8%~6.0%。
衰减模体材料为铝 (纯度≧99%)，厚度为 20 mm±0.05 mm。注：可以采用 Cu (纯度≧99%) 模体，厚度为 1.5 mm±0.05 mm。

分辨力测试卡
栅条铅当量为 0.1 mmPb，*大线对应不小于 50 Lp/cm。
数字影像综合测试卡，标尺分度值不大于 2 mm，并具有边界及中心影像均匀性测试点。

X射线透过人体时由于各部位组织厚度和密度的不同，对 X 射线的衰减不同。医用数字摄影 (CR、DR) 系统的影像探测器接收透过人体的X 射线形成影像信号，经放大转换后输出数字影像。CR 系统 X 射线辐射源主要包括 X 射线辐射源组件、X 射线高压发生器、成像装置、图像显示器等。DR 系统 X 射线辐射源主要包括 X 射线辐射源织件、X 射线高压发生器、数字化影像探测器、计算机图像处理装置、图像显示器等。

检定方法：
1空间分辨力
a) 对 CR 系统:将 IP 放置在照射野中，射线束与 IP 表面垂直。选常用规格的 IP将分辨力测试卡放置在 IP 中间区，再将衰减模体放置于照射野中，并覆盖整个照射野.设置 SID 为 100 cm 或 180 cm，选取管压 70 V 或 80 kV，用适当的 mAs 曝光曝光后将 IP 在影像读出器上扫描显像，直接读取可分辨的线对值。
b) 对 DR 系统:调整影像探测输入面与射线束垂直。将分辨力测试卡放置在照射野的中心位置，尽量靠近影像探测器输入面，再将衰减模体放置于照射野中，并覆盖整个照射野。设置 SID 为 100 cm 或 180 cm，选取管电压 70 kV 或 80 kV，用适当的 mAs 曝光调节窗宽与窗位使显示影像*佳，在显示器上直接读取可分辨的线对值。

2低对比度分辨力
a) 对 CR 系统: 选常用规格的 IP，将低对比度分辨力模体放置在 IP 暗盒中间区模体表面与射线束垂直，并处在照射野的中心位置，在 SID 为 100 cm 或 180 cm，选取管电压 70 kV 或 80 kV，用适当的 mAs 或自动模式条件下曝光，将曝光后的 IP 在影像读出器上扫描显像，可分辨的*小低对比度圆孔对应的百分比即为低对比度分辨力。b) 对 DR 系统:将低对比度分辨力模体放置在影像探测器输入面，探测器与射线束垂直，并处在照射野的中心位置，在 SID 为 100 cm 或 180 cm，选取管电压 70 kV 或80 kV，用适当的 mAs 或自动模式条件下曝光，调节窗宽与窗位使显示影像*佳，可分辨的*小低对比度圆孔对应的百分比即为低对比度分辨力。