A型B型专用试块JJF1338-2012相控阵超声探伤仪

商品名称:A型B型专用试块JJF1338-2012相控阵超声探伤仪
库存号:AUBAT-1338X
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产品参数

JJF1338-2012相控阵超声探伤仪校准规范
货号AUBAT-1338X

A型曲面专用试块

B型矩形专用试块

本规范规定了具有 B 型显示功能的相控阵超声探伤仪的计量特性、校准条件和校准方法。适用于相控阵超声探伤仪 B 型显示模式下的计量特性的校准。相控阵超声探伤仪一般由主机和探头组成。探头一般是由若干压电阵元组成的阵列。相控阵超声探伤仪通过主机独立控制探头中的各个阵元，实现探头声束的相控发射与接收，在介质指定空间区域内实现超声波的偏转和聚焦。常用探头分为直探头与斜探头，此外还有与探头配套使用的各种楔块等。

计量特性
1扇扫成像横向分辨力
扇扫成像横向分辨力一般不大于 2 mm。
2扇扫成像纵向分辨力
扇扫成像纵向分辨力一般不大于 2 mm。
3短缺陷分辨力
短缺陷分辨力一般不大于 5 mm。
4成像横向几何尺寸测量误差
人工缺陷成像的横向几何尺寸测量误差一般不超过士5%。成像5纵向几何尺寸测量误差
人工缺陷成像的纵向几何尺寸测量误差一般不超过士5%。扇扫6角度范围测量误差
通过对人工缺陷的扇形扫查成像，确定扫查角度范围，测量误差一般不超过士3°
7扇扫角度分辨力
角度分辨力一般不大于 2.5°。

专用试块的技术要求
本规范实验所采用试块的材料是 45# 钢，其声速为 5920 m/s，表面粗糙度小于1.6 μm。所有的人工缺陷中除了 A-3 区中是规则的圆形盲孔外，其余人工缺陷均为规则的圆形通孔，试块的几何尺寸与人工缺陷的位置及几何尺寸，试块的材料为金属，表面应足够平整。材料没有明确的限制，只要确切知道试块材料的声速、保证试块中人工缺陷的加工精度即可。

扇扫成像横向分辨力

将探头放置在试块 A 中 A-1 区一系列运孔的下端面，在探头与试块表面之间涂敷合适的耦合剂，并施加一定的压力确保良好耦合，调节设备实现扇形扫查，确保 A-1区中的人工缺陷都在显示区域中。成像中所能分开的*小间距即为该工作状态下的成像横向分辨力。

扇扫成像纵向分辨力
将探头放置在试块 A 中 A-2 区一系列通孔的上端面，在探头与试块表面之间涂敷合适的耦合剂，并施加一定的压力确保良好耦合，调节设备实现扇形扫查，确保 A-2区中的同一组人工缺陷都在显示区域中。成像中所能分开的*小间距即为该工作状态下的成像纵向分辨力。

成像横向几何尺寸测量误差
将探头放置在试块 B中 B-1 区一系列通孔的左端面及 B-2 区一系列通孔的下端面在探头与试块表面之间涂敷合适的耦合剂，并施加一定的压力确保良好的耦合，调节设备实现线性扫查或扇形扫查得到清晰图像

成像纵向几何尺寸测量误差
将探头放置在试块 B 中 B-1 区一系列通孔的下端面，在探头与试块表面之间涂敷合适的耦合剂，并施加一定的压力确保良好耦合，调节设备实现线性扫查或扇形扫查得到清晰图像。

在图像上，依次选择不同孔图像的中心并进行纵向间距测量，读取不同孔图像之间的纵向距离测量值。由试块上该两孔之间的标称值减去测量值，即为设备对该两个孔纵向几何尺寸测量的误差。