奥本精密公司生产的计量平面平晶是以光波干涉原理为基础，计量平面平晶利用平晶的测量面与试件的被测量面之间所出现的干涉条纹来测量被测量面的误差程度。
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订货号
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奥本精工计量平面平晶（单面）
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Aubat30p
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单平面平晶
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φ45*15
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平面度＜0.1μm
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Aubat31p
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单平面平晶
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φ45*15
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平面度0.03μm
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Aubat32p
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单平面平晶
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φ50*20
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平面度0.03μm
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Aubat33p
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单平面平晶
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φ50*20
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平面度0.03μm
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Aubat34p
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单平面平晶
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φ60*20
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平面度0.03μm
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Aubat35p
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单平面平晶
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φ75*20
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平面度0.03μm
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Aubat36p
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单平面平晶
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φ80*20
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平面度0.05μm
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Aubat37p
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单平面平晶
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φ120*25
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平面度0.05μm
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Aubat38p
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单平面平晶
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φ150*30
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平面度0.05μm
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Aubat39p
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单平面平晶
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φ200*40
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平面度0.08μm
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Aubat40p
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单平面平晶
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φ250*45
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平面度0.1μm
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Aubat41p
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单平面平晶
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φ300*50
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平面度0.15μm
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Aubat42p
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单平面平晶
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φ500*70
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平面度0.35μm
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订货号
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奥本精工计量平面平晶（双面）
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Aubat40p
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双平面平晶
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φ45*15
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平面度＜0.1μm
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Aubat41p
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双平面平晶
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φ45*15
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平面度0.03μm
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Aubat42p
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双平面平晶
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φ50*20
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平面度0.03μm
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Aubat43p
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双平面平晶
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φ60*20
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平面度0.03μm
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Aubat44p
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双平面平晶
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φ75*20
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平面度0.03μm
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