奥本精密公司生产的计量平面平晶是以光波干涉原理为基础,计量平面平晶利用平晶的测量面与试件的被测量面之间所出现的干涉条纹来测量被测量面的误差程度。
订货号
奥本精工计量平面平晶(单面)
Aubat30p
单平面平晶
φ45*15
平面度<0.1μm
Aubat31p
平面度0.03μm
Aubat32p
φ50*20
Aubat33p
Aubat34p
φ60*20
Aubat35p
φ75*20
Aubat36p
φ80*20
平面度0.05μm
Aubat37p
φ120*25
Aubat38p
φ150*30
Aubat39p
φ200*40
平面度0.08μm
Aubat40p
φ250*45
平面度0.1μm
Aubat41p
φ300*50
平面度0.15μm
Aubat42p
φ500*70
平面度0.35μm
奥本精工计量平面平晶(双面)
双平面平晶
Aubat43p
Aubat44p
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