奥本精密公司生产的平行平晶是以光波干涉原理为基础，利用平晶的测量面与试件的被测量面之间所出现的干涉条纹来测量被测量面的误差程度。 一般由4块厚度不同的平晶组合而成使用，也可一个单独使用。 奥本平行平晶具有高精度的平面性和平行性。
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订货号
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通用标准平行平晶
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Aubat20p
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高精度平行平晶
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φ30*12
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平面度＜0.1μm
平行度＜0.2μm
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Aubat21p
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一般精度平行平晶
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φ30*12
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平面度＜0.2μm
平行度＜0.4μm
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订货号
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千分尺专用平行平晶
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Aubat22p
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0-25mm千分尺专用
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φ30*12/12.12/
12.25/12.37
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平面度0.03μm
平行度＜0.2μm
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Aubat23p
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0-25mm千分尺专用
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φ30*12/12.12/
12.25/12.37
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平面度0.1μm
平行度＜0.2μm
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Aubat24p
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25-50mm千分尺专用
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φ30*25/25.12/
25.25/25.37
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平面度0.03μm
平行度＜0.2μm
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Aubat25p
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25-50mm千分尺专用
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φ30*25/25.12/
25.25/25.37
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平面度0.1μm
平行度＜0.2μm
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